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NDT无损检测---X射线相机

采用光纤锥耦合NDT无损检测---X射线相机,蕞大限度的提高了光通量,用1:1的光纤面板,耦合效率可达到70%,大大提高了相机的探测能力。图像不失真,不需要对影像进行较正,可以让系统的软件变得更简单

X射线探测器 的详细介绍

 

高耦合效率,降低设备X光源的投入
影像不失真,让系统软件变得更简单
 采用光纤锥耦合的X射线探测器,蕞大限度的提高了光通量,用1:1的光纤面板,耦合效率可达到70%,大大提高了相机的探测能力。图像不失真,不需要对影像进行较正,可以让系统的软件变得更简单。
此相机广泛的应用于工业无损检测,如铸件和焊接检测、PCB板检测、工业CT等
         
BGA检查                  IC焊脚检查           二极管质量检查      金线检查    
 
产品规格:                                                                     
标准产品有以下三个型号,根据X光源不同,要求分辨率以及目标物的厚度不同,有可能需要改变荧光屏材料和厚度。我们向您提供完美的解决方案。   
                      

 

产品型号
HR-25-X-Ray
HR-40-X-Ray
HR-75-X-Ray
CCD芯片
2/3’’芯片,752*582
2/3’’芯片,1392*1040
1.2’’芯片,2048*2048
像素尺寸
11.6um*11.2um
6.45um*6.45um
7.4um*7.4um
输出格式
标准CCIR模拟型号输出
8bit或12bit数字信号输出
8bit或12bit数字信号输出
帧速
视频速度
17帧或30帧
15帧
计算机接口
1394或以太网接口
以太网接口
视场
20mm*15mm(其它可选)
32mm*24mm(其它可选)
45um*45um
荧光屏镀膜
P43(其它可选)
P43(其它可选)
P43(其它可选)
X光响应范围
20kev-100kev
20kev-100kev
20kev-100kev
入射光窗
0.5mm厚铝膜(其它可选)
0.5mm厚铝膜(其它可选)
0.5mm厚铝膜(其它可选)
分辨率
50um
≤50um,10lp/mm
≤50um,11lp/mm


 

 

 

 
 
HR-75-X-Ray
400万像素高分辨率;选用75:25的光纤锥耦合,视野可达到45mm X45mm.

 
HR-40-X-Ray
140万像素高分辨率;选用40:11的光纤锥耦合,视野可达到32mm X24mm.

 
HR-25-X-Ray
体积小巧,直径仅55mm,长68mm,易于安装;分辨率高;动态范围好。

 
量子效率曲线图
(P43荧光屏(25mg/cm2),厚度:55um)
 
定制产品:                                                                     
我们可根据客户的需求定制X-Ray相机
 
  • 荧光屏类型和厚度
  • 附加层(如Alu,ITO)
  • 输入窗口类型和厚度
  • 相机电子部分(如计算机接口)
  • 制冷(针对于部分型号)
  • 真空接口
  • 视野大小
  • 空间分辨率
           
应用领域                                                                       
医学成像设备:
  • 牙科X光成像
  • 眼科成像
  • X射线断层成像
  • 局部骨骼成像
 
工业检测设备:
  • PCB或BGA 检查
  • 半导体缺陷检查
  • 食品安全检查
  • X光光斑成像
  • 无损探伤
  • 电线检查
 
安防设备:
  • 紫外线导弹预警
  • 距离选通激光雷达
  • 夜视相机
  • 爆炸物探测
  • 指纹获取
  • 火灾探测
 
产品目录

XRF,光电传感器,红外探测器,红外气体传感器,X射线探测器,光电倍增管,冷CCD,光电探测器

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