国家知识产权局信息显示，耶拿分析仪器有限两合公司申请一项名为“用于检查光谱仪中的检测器上的波长偏移的方法”的专利，公开号CN122237754A，申请日期为2025年12月。

专利摘要显示，本发明涉及用于检查光谱仪中的检测器上的波长偏移的方法。一种用于检查光谱仪（1）中的检测器（2）上的波长偏移的方法，其中光谱仪（1）包括样品单元（3）和检测器（2），其中样品单元（3）被实施为产生样品的光特性，其中检测器（2）具有多个像素，并且被实施为将所产生的光检测为光谱，其中，方法包括如下步骤：创建第一波长关联，方式为将波长与检测器（2）的像素相关联，采集样品的第一光谱，第一波长关联对该第一光谱有效，采集样品的第二光谱，基于第一光谱与第二光谱的比较来确定第一光谱与第二光谱之间的波长偏移，创建第二波长关联，其中，基于所确定的波长偏移将波长与第二光谱中的像素相关联。

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