产品详情
简单介绍:
XRF用Si PIN探测器按封装形式分为XPIN-XT和XPIN-BT两个系列,转为XRF应用。XPIN-XT系列包括探测器和前置放大器,成本低廉,封装形式多样;XPIN-BT系列则集成了温度控制和供电部分,既可配合Moxtek的MXDPP-200数字脉冲处理器使用,也可与用户自己的DPP配套
详情介绍:
专注于为国内XRF设备提供完整解决方案,包括XRF用Si PIN探测器、光源、光窗等产品一应俱全。
XRF用Si PIN探测器的型号及参数
产品指标
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XPIN-XT系列
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XPIN-BT系列
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Si PIN探测器面积
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6 mm2 或 13 mm2
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6 mm2 或 13 mm2
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硅片厚度
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625μm
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625μm
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铍窗厚度
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8μm 或 25μm
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8μm 或 25μm
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准直器材料
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W/Co/Ti/Al
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W/Co/Ti/Al
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能量分辨率
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6 mm2 < 170eV FWHM
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6 mm2 < 170eV FWHM
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13 mm2: < 230eV FWHM
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13 mm2: < 230eV FWHM
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峰背比
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6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical)
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6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical)
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13mm2: 3000/1 @1keV (typical)
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13mm2: 3000/1 @1keV (typical)
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Si-PIN探测器特点
特点
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带给用户的好处
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能量分辨率高
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更容易区分不同的材料,不同的元素
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Be窗厚度薄
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有利于测量轻元素
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探测器硅片更厚,计数率高
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有利于测量重元素
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尺寸小,梯形外形设计,结构紧凑
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X光管,探测器和样品可以更紧密贴在一起
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封装形式多样
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用户的选择性更大
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X射线窗
Moxtek公司生产的X射线窗产品是当前世界上商用产品中性能*好的,适用于分析低能的X射线,对低能量的X射线有很高的透过率。
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Moxtek公司光窗具有以下特点:
特点
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带给用户的好处
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极薄的聚合物窗口
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对低能量射线有很高的透过率
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硅材料支撑结构
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机械强度高,耐久性好
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全部反射紫外,可见和红外光
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噪声很低
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双层镀膜
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耐腐蚀,密封性好
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厚度均匀
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窗口的透过率的一致性很好
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材料的纯度很高
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不会污染入射光光谱
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JFET产品
MOXTEK公司可以提供MX系列JFET小信号放大器,可用于微弱信号探测,通信等领域