飞利浦申请用于X射线成像采集滞后校正系统及方法,去除滞后效应和相关联的伪影:x射线成像探测器

金融界2025年7月9日消息,国家知识信息显示,皇家飞利浦有限公司申请一项名为“用于双层系统中的前层探测器的基于机器学习的滞后校正”的,公开号CN120283177A,申请日期为2023年11月x射线成像探测器

摘要显示,用于X射线成像中的采集滞后校正的系统(SYS)和相关方法x射线成像探测器 。所述系统包括用于接收输入的输入接口(IN),所述输入包括由多能量X射线成像装置(IA)中的前层探测器(FLD)采集的输入图像。校正器部件(CC)将输入图像处理成校正版本,所述校正版本表示对在比输入图像经历的采集滞后更低的采集滞后下的图像信息的估计。具体地,去除滞后效应和相关联的伪影,并且校正版本是对在没有这种采集滞后的采集设置中的输入图像的估计。

来源:金融界

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