YY/T 0796.1-2010《医用电气设备 数字X射线成像系统的曝光指数 第1部分：普通X射线摄影的定义和要求》是我国针对数字X射线成像系统制定的行业标准x射线成像探测器 ，以下是对该标准的详细解析：
一、标准基本信息
标准编号：YY/T 0796.1-2010
发布日期：2010年12月27日
实施日期：2012年6月1日
主管部门：国家食品监督管理局
归口单位：全国医用电器标准化技术会医用X射线设备及用具分技术会
等同采用国际标准：IEC 62494-1:2008
二、适用范围
设备类型：适用于普通X射线摄影的数字X射线成像系统，包括光激励发光（CR）系统、平板探测器系统、光电耦合装置（CCD）系统x射线成像探测器 。
不适用范围：影像增强器系统、乳腺或牙科成像系统、多次辐照产生的影像（如断层融合影像、双能减影影像）x射线成像探测器 。
三、核心内容
曝光指数（Exposure Index, EI）：
定义：基于影像信号计算得到的数值，用于判断探测器吸收的能量水平是否适合预期的影像质量x射线成像探测器 。
特点：与探测器吸收的能量相关，但与探测器表面的空气比释动能无直接联系x射线成像探测器 。
作用：帮助操作者判断影像质量是否适合预期的临床需求，用于建立合适的曝光量指南x射线成像探测器 。
2.偏差指数（Deviation Index, DI）：
定义：用于量化实际曝光指数与目标曝光指数的偏差x射线成像探测器 。
计算公式：DI=0.25×EI目标
EI实际
−EI目标
（或表述为DI=0.25×EItarget
(EI−EItarget)，核心逻辑为通过实际与目标曝光指数的比例关系量化偏差）x射线成像探测器 。当实际曝光指数与目标曝光指数相等时，偏差指数为0；每变化25%的曝光指数，偏差指数变化为±1。
3.校准与计算：
曝光指数应根据影像信号计算得到，具体方法由制造商规定x射线成像探测器 。
制造商应提供反校准函数和影像接收器空气比释动能的范围，以便在校准条件下计算曝光指数x射线成像探测器 。
指定的反校准函数的不确定度应小于20%（覆盖系数2）x射线成像探测器 。
4.线性关系：
在相同的技术因素（如管电压、滤过、SID和滤线栅）下，曝光指数与影像接收器空气比释动能成线性关系x射线成像探测器 。
5.影像区域选择：
曝光指数与相关影像区域的选择方法密切相关，不同系统可能采用不同的选择方法x射线成像探测器 。标准未定义或限制集中趋势的测量方法（如均值、中值或众数），不同系统可能有不同的解释。
6.统一标准：
为不同制造商的数字X射线成像系统提供统一的曝光指数定义和要求，便于临床应用和质量控制x射线成像探测器 。
四、标准实施意义
提高影像质量：通过曝光指数和偏差指数，帮助操作者优化曝光参数，提高影像质量x射线成像探测器 。
降低辐射剂量：在保证影像质量的前提下，尽量降低患者和操作人员的辐射剂量x射线成像探测器 。
国际接轨：等同采用IEC国际标准，确保与国际接轨x射线成像探测器 。
规范市场秩序：有助于规范数字X射线成像系统的生产和市场秩序x射线成像探测器 。